晶合集成取得半导体结构相关专利,半导体结构及制备法可减小湿度对结漏电影响 国家知识产权局信息显示,合肥晶合集成电路股份有限公司申请一项名为“一种半导体结构及其制备方法”的专利,授权公告号CN121752034B,授权公告日为2026年5月5日。申请公布号为CN121752034A,申请号为CN202610243328.9,申请公布日 专利 王文智 半导体 王维安 李猛 2026-05-08 09:30 3